Contrôles et mesures optiques pour l'industrie

Formation

 

 A chaque colloque, le Club organise une journée de formation introductive qui a pour but de donner aux participants non spécialistes des domaines traités les principes de base permettant une meilleure compréhension de la majorité des conférences. Voir le programme ci-dessous.

Pour l'inscription à cette formation, voir la rubrique " Colloque 2010 - Inscriptions en ligne"

8h45 – 9h45 Mesure de formes et de déformations par stéréo - corrélation d’images : applications en mécanique expérimentale des solides                                    
J.J. ORTEU, École des Mines, Albi (F)

9h45 – 10h00 Discussion, pause café
 
10h00 – 11h00 Fibres optiques et  applications
J.P. GOURE (1) - G. BRUN (2)
(1) Université Jean Monnet - ARUFOG, Saint -Etienne (F)
(2) Direction de l'Enseignement Supérieur, de la Recherche et des T.I.C.
Conseil Régional Champagne-Ardenne, Châlons-en-Champagne (F)
 
11h00 – 11h15 Discussion, pause café
 
11h15 – 12h30 Techniques de speckle : théorie et applications
P. JACQUOT - NAM/EPFL, Lausanne (CH)

12h45 -14h15 Discussion, repas
 
14h30 – 15h30 Microscopie optique. De l'imagerie à la physique à l'échelle nanométrique
P. MONTGOMERY (1) - M. SPAJER (2)
(1) Institut d’Electronique du Solide et des Systèmes (InESS), CNRS, UDS, Strasbourg (F)
(2) Institut FEMTO-ST/Université de Franche-Comté, CNRS,
Laboratoire d'Optique P.M. Duffieux, Besançon (F)

15h30 – 15h45 Discussion, pause café

15h45 – 16h45 Contrôle et mesure de la qualité de l’aspect de surface par déflectométrie.
Y. SURREL, VISUOL Technologies, Metz (F)

16h45 – 17h00 Discussion, pause café

17h00 – 18h00 Contrôle non destructif par techniques infrarouges
J.L. BODNAR - Laboratoire d'Énergétique et d'Optique, Université de Reims (F)
 
18h00 - 18h30 Discussion
 
Cette formation est organisée avec le soutien financier de CAPTRONIC www.captronic.fr