Les colloques
Nos partenaires
Nos partenaires 2011
Formation 2011
FORMATION CMOI 2011
Lundi 21 novembre 2011
ONERA Lille
Cette formation est programmée pour donner aux participants qui le souhaitent, les principes de base permettant une meilleure compréhension des exposés.
8h45 – 10h00 Techniques de speckle : théorie et applications
P. JACQUOT - NAM/EPFL, Lausanne (CH)
10h00 – 10h15 Discussion, pause café
P. JACQUOT - NAM/EPFL, Lausanne (CH)
10h15 – 11h15 Microscopie optique. De l'imagerie à la physique à l'échelle nanométrique
P. MONTGOMERY (1) - M. SPAJER (2)
(1) Institut d’Electronique du Solide et des Systèmes (InESS), CNRS, UDS, Strasbourg (F)
(2) Institut FEMTO-ST/Université de Franche-Comté, CNRS,
Laboratoire d'Optique P.M. Duffieux, Besançon (F)
Laboratoire d'Optique P.M. Duffieux, Besançon (F)
11h15 – 11h30 Discussion, pause café
11h30 – 12h30 Fibres optiques et applications
J.P. GOURE (1) - G. BRUN (2)
(1) Université Jean Monnet - ARUFOG, Saint -Etienne (F)
(2) Direction de l'Enseignement Supérieur, de la Recherche et des T.I.C.
J.P. GOURE (1) - G. BRUN (2)
(1) Université Jean Monnet - ARUFOG, Saint -Etienne (F)
(2) Direction de l'Enseignement Supérieur, de la Recherche et des T.I.C.
Conseil Régional Champagne-Ardenne, Châlons-en-Champagne (F)
12h45 -14h15 Discussion, repas
14h15 – 15h30 Contrôle non destructif par techniques infrarouges
J.L. BODNAR - Groupe de Recherche en Sciences pour l’Ingénieur (GRESPI), Université de Reims Champagne-Ardenne (F)
J.L. BODNAR - Groupe de Recherche en Sciences pour l’Ingénieur (GRESPI), Université de Reims Champagne-Ardenne (F)
15h30 – 15h45 Discussion, pause café
15h45 – 16h45 Contrôle et mesure de la qualité de l’aspect de surface par déflectométrie.
Y. SURREL, VISUOL Technologies, Metz (F)
16h45 – 17h00 Discussion, pause café
17h00 – 18h00 Mesure de formes et de déformations par stéréo - corrélation d’images : applications en mécanique expérimentale des solides
J.J. ORTEU, École des Mines, Albi (F)
18h00 - 18h30 Discussion
